Instrument de diagnostic rapide d'analyse des défauts

Description:
1. Capturez avec précision des fuites extrêmement petites, aussi basses que 5 mA.
2. Lumière visible bimode originale et affichage infrarougePositionnement rapide des composants de fuite en 1 seconde.
3.180x180x175mm

Fonction:
1. vérification rapide en un clic.
2. Suivi des températures élevées.
3. positionnement de la lumière visible.
4. alarme de haute température.
5. détection de petites fuites.
6. enregistrement des défauts.
Qualité d'image haute définition de 7,2 millions de pixels.
8. Les images haute résolution, non seulement semblent délicates, mais aident également à la détection, vous évitant ainsi les étapes fastidieuses de déplacement de la carte mère d'avant en arrière pour confirmer le point de fuite.
9. Trouvez les composants plus rapidement et avec plus de précision.
10. Peut agrandir de manière flexible les détails de la carte mère et trouver facilement de minuscules composants.
11. Convient pour iPhone, Samsung, Xiaomi, Huawei, Vivo HTC, tous les téléphones intelligents.

Note:
S'il y a des problèmes lors de l'utilisation du produit, veuillez nous contacter à temps et vous servir sincèrement.

Liste de colisage:
Hôte X1PCS
Câble d'alimentation X1PCS
Câble réseau X1PCS
Clé hexagonale X1PCS
Instructions X1PCS